FT-EL1便携式EL缺陷测试仪
便携式EL缺陷测试仪利用晶体硅的电致发光原理,能够在不破坏太阳能电池片与组件的情况下,准确检测出内部的多种缺陷,如隐裂、碎片、虚焊、断栅等。这种非破坏性的检测方式不仅保证了产品的完整性,还提高了检测的准确性。
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更新日期
2025-01-02 - 02
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